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靜電放電實驗中接觸放電的干擾情況
日期：2025-04-20 10:45
瀏覽次數(shù)：1812
摘要：
靜電放電實驗中接觸放電的干擾情況
做過靜電放電實驗的都知道，靜電放電實驗對金屬部分實施接觸放電，對非金屬部分實施空氣放電，本節(jié)先來看看接觸放電靜電是怎樣對產(chǎn)品進行干擾的：
一、對金屬殼而言，可分以下三種情況：
放電電流經(jīng)過金屬殼直接流回地，金屬殼的連續(xù)性、搭接電阻是關鍵。
1） 密閉全金屬殼：放電電流不太可能在殼體上產(chǎn)生電壓降，ESD幾乎對其沒有作用；
2） 開口全金屬殼：殼體通流能力在局部可能會變差（如搭接**、因裁剪使通流面積變窄）而形成電壓，則靠近放電部位的金屬構件就會成為容性耦合板，通過其與內(nèi)部電路的分布電容將干擾耦合到敏感電路。
3） 部分金屬殼（特別是出現(xiàn)條狀金屬構件的情況）：殼體的通流能力較差，很容易產(chǎn)生電壓，耦合進入電路。條狀金屬構件還存在電感，將流經(jīng)的電流轉(zhuǎn)換成磁場輻射，干擾內(nèi)部電路。
二、 塑殼帶金屬螺絲或者小的金屬構件的產(chǎn)品，可分為以下兩種情況：
1） 金屬構件與內(nèi)部地接通：放電經(jīng)金屬構件進入內(nèi)部地，如果內(nèi)部地與大地隔離（或者有較好的共模退耦能力），則整個內(nèi)部電路成為容性天線，內(nèi)部電路的各部分與大地的分布參數(shù)將決定干擾的效果。如果內(nèi)部地與大地良好直通，放電電流經(jīng)內(nèi)部地流回大地，則內(nèi)部的通流能力，是否有細長部分比較關鍵，會產(chǎn)生容性或者感性天線。
2） 金屬構件與內(nèi)部地不通：如果絕緣能力不佳，會在內(nèi)部產(chǎn)生擊穿放電。另外，金屬構件也可以以容性天線的方式耦合干擾。
有關靜電放電發(fā)生器的詳細資料，可點擊www.dgzhongsheng.com去了解。
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一、對金屬殼而言，可分以下三種情況：
放電電流經(jīng)過金屬殼直接流回地，金屬殼的連續(xù)性、搭接電阻是關鍵。
1） 密閉全金屬殼：放電電流不太可能在殼體上產(chǎn)生電壓降，ESD幾乎對其沒有作用；
2） 開口全金屬殼：殼體通流能力在局部可能會變差（如搭接**、因裁剪使通流面積變窄）而形成電壓，則靠近放電部位的金屬構件就會成為容性耦合板，通過其與內(nèi)部電路的分布電容將干擾耦合到敏感電路。
3） 部分金屬殼（特別是出現(xiàn)條狀金屬構件的情況）：殼體的通流能力較差，很容易產(chǎn)生電壓，耦合進入電路。條狀金屬構件還存在電感，將流經(jīng)的電流轉(zhuǎn)換成磁場輻射，干擾內(nèi)部電路。
二、 塑殼帶金屬螺絲或者小的金屬構件的產(chǎn)品，可分為以下兩種情況：
1） 金屬構件與內(nèi)部地接通：放電經(jīng)金屬構件進入內(nèi)部地，如果內(nèi)部地與大地隔離（或者有較好的共模退耦能力），則整個內(nèi)部電路成為容性天線，內(nèi)部電路的各部分與大地的分布參數(shù)將決定干擾的效果。如果內(nèi)部地與大地良好直通，放電電流經(jīng)內(nèi)部地流回大地，則內(nèi)部的通流能力，是否有細長部分比較關鍵，會產(chǎn)生容性或者感性天線。
2） 金屬構件與內(nèi)部地不通：如果絕緣能力不佳，會在內(nèi)部產(chǎn)生擊穿放電。另外，金屬構件也可以以容性天線的方式耦合干擾。
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