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靜電放電試驗(yàn)中的放電方式
日期：2025-04-20 04:59
瀏覽次數(shù)：1698
摘要：
靜電放電試驗(yàn)中的放電方式
靜電放電試驗(yàn)有直接和間接兩種。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定直接放電以接觸
放電為優(yōu)選方式，只有在不能用接觸放電的地方才改用氣隙放電。
對間接放電，標(biāo)準(zhǔn)中是用金屬板來模擬被試設(shè)備附近的放電
物體。由于是金屬板，對間接放電無一例外是采用接觸放電為優(yōu)選的放電方式。
標(biāo)準(zhǔn)之所以用接觸放電為優(yōu)選的放電方式，是因?yàn)榻?jīng)歷了IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)的前身IEC801-2標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行過程中暴露出來的不足。IEC801-2標(biāo)準(zhǔn)以氣隙放電為其**的放電方式，標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行中發(fā)現(xiàn)這種放電方式的測試結(jié)果重復(fù)性和可比性都比較差。造成這種情況的主要原因是氣隙放電的放電電流波形受制于下列因素：
①放電電極接近被試設(shè)備的速度；
②被測設(shè)備表面的形狀對電極場強(qiáng)分布的影響；
③環(huán)境（如溫度、濕度和氣壓）對放電的影響；
④放電電壓對放電電流波形頻譜的影響（例如，8kV的放電電流上升時間典型值為1ns～5ns；高于8kV的電流上升時間可能達(dá)到5～30ns）。
此外，在IEC801-2：1984標(biāo)準(zhǔn)中采用氣隙放電為**放電
方式，還和當(dāng)時找不到合適的測量儀器有關(guān)（示波器的帶寬還不足以觀察到上升速率為1ns的波形）。
氣隙放電對測試結(jié)果帶來的種種弊病，在1991年出版的IEC801-2標(biāo)準(zhǔn)草案中得到改正，草案決定用接觸放電為優(yōu)選放電方式。仍保留氣隙放電作為對非導(dǎo)電性表面的設(shè)備（如塑料機(jī)箱，或表面復(fù)有絕緣物的金屬外殼）的試驗(yàn)方式。這種情況一直延續(xù)到IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)的頒布。
如想了解靜電放電發(fā)生器的詳細(xì)資料，可點(diǎn)擊鏈接：www.dgzhongsheng.com/ProductShow.asp。
靜電放電試驗(yàn)有直接和間接兩種。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定直接放電以接觸
放電為優(yōu)選方式，只有在不能用接觸放電的地方才改用氣隙放電。
對間接放電，標(biāo)準(zhǔn)中是用金屬板來模擬被試設(shè)備附近的放電
物體。由于是金屬板，對間接放電無一例外是采用接觸放電為優(yōu)選的放電方式。
標(biāo)準(zhǔn)之所以用接觸放電為優(yōu)選的放電方式，是因?yàn)榻?jīng)歷了IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)的前身IEC801-2標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行過程中暴露出來的不足。IEC801-2標(biāo)準(zhǔn)以氣隙放電為其**的放電方式，標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行中發(fā)現(xiàn)這種放電方式的測試結(jié)果重復(fù)性和可比性都比較差。造成這種情況的主要原因是氣隙放電的放電電流波形受制于下列因素：
①放電電極接近被試設(shè)備的速度；
②被測設(shè)備表面的形狀對電極場強(qiáng)分布的影響；
③環(huán)境（如溫度、濕度和氣壓）對放電的影響；
④放電電壓對放電電流波形頻譜的影響（例如，8kV的放電電流上升時間典型值為1ns～5ns；高于8kV的電流上升時間可能達(dá)到5～30ns）。
此外，在IEC801-2：1984標(biāo)準(zhǔn)中采用氣隙放電為**放電
方式，還和當(dāng)時找不到合適的測量儀器有關(guān)（示波器的帶寬還不足以觀察到上升速率為1ns的波形）。
氣隙放電對測試結(jié)果帶來的種種弊病，在1991年出版的IEC801-2標(biāo)準(zhǔn)草案中得到改正，草案決定用接觸放電為優(yōu)選放電方式。仍保留氣隙放電作為對非導(dǎo)電性表面的設(shè)備（如塑料機(jī)箱，或表面復(fù)有絕緣物的金屬外殼）的試驗(yàn)方式。這種情況一直延續(xù)到IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)的頒布。
如想了解靜電放電發(fā)生器的詳細(xì)資料，可點(diǎn)擊鏈接：www.dgzhongsheng.com/ProductShow.asp。
