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IC靜電放電測(cè)試之I/O Pin
日期：2025-04-20 02:31
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摘要：
IC靜電放電測(cè)試之I/O Pin
集成電路芯片的靜電放電測(cè)試，詳細(xì)的可以分為對(duì)I/O Pin靜電測(cè)試、Pin-to-Pin靜電測(cè)試、VDD-to-VSS靜電測(cè)試和Analog Pin靜電測(cè)試，本文著重講下I/O Pin靜電測(cè)試：
靜電的累積可能是正的或負(fù)的電荷，因此靜電放電測(cè)試對(duì)同一IC腳而言是具有正與負(fù)兩種極性。對(duì)每一I/O (Input or Output) Pin而言，HBM與MM靜電放電對(duì)IC的放電，有下列四種ESD測(cè)試組合，其等效電路示意圖如圖3.1-1所示。
1. PS-mode:VSS腳接地，正的ESD電壓出現(xiàn)在該I/O腳對(duì)VSS腳放電，此時(shí)VDD與其他腳皆浮接；
2. NS-mode:VSS腳接地，負(fù)的ESD電壓出現(xiàn)在該I/O腳對(duì)VSS腳放電，此時(shí)VDD與其他腳皆浮接；
3. PD-mode:VDD腳接地，正的ESD電壓出現(xiàn)在該I/O腳對(duì)VDD腳放電，此時(shí)VSS與其他腳皆浮接；
4. ND-mode:VDD腳接地，負(fù)的ESD電壓出現(xiàn)在該I/O腳對(duì)VDD腳放電，此時(shí)VDD與其他腳浮接。
如想了解靜電放電發(fā)生器的詳細(xì)資料，可點(diǎn)擊鏈接：www.dgzhongsheng.com/ProductShow.asp。
集成電路芯片的靜電放電測(cè)試，詳細(xì)的可以分為對(duì)I/O Pin靜電測(cè)試、Pin-to-Pin靜電測(cè)試、VDD-to-VSS靜電測(cè)試和Analog Pin靜電測(cè)試，本文著重講下I/O Pin靜電測(cè)試：
靜電的累積可能是正的或負(fù)的電荷，因此靜電放電測(cè)試對(duì)同一IC腳而言是具有正與負(fù)兩種極性。對(duì)每一I/O (Input or Output) Pin而言，HBM與MM靜電放電對(duì)IC的放電，有下列四種ESD測(cè)試組合，其等效電路示意圖如圖3.1-1所示。
1. PS-mode:VSS腳接地，正的ESD電壓出現(xiàn)在該I/O腳對(duì)VSS腳放電，此時(shí)VDD與其他腳皆浮接；
2. NS-mode:VSS腳接地，負(fù)的ESD電壓出現(xiàn)在該I/O腳對(duì)VSS腳放電，此時(shí)VDD與其他腳皆浮接；
3. PD-mode:VDD腳接地，正的ESD電壓出現(xiàn)在該I/O腳對(duì)VDD腳放電，此時(shí)VSS與其他腳皆浮接；
4. ND-mode:VDD腳接地，負(fù)的ESD電壓出現(xiàn)在該I/O腳對(duì)VDD腳放電，此時(shí)VDD與其他腳浮接。
如想了解靜電放電發(fā)生器的詳細(xì)資料，可點(diǎn)擊鏈接：www.dgzhongsheng.com/ProductShow.asp。
